Search results

Records found: 1  
Your query: Author Sysno = "^cbvk_us_auth 0132272^"
  1. Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Petr Tichopádek.    [Brno : Vysoké učení technické], c2006 . 31 s. il. ; . ISBN 80-214-3138-5 - C 322.184
    Umístění: 531/533 - Mechanika pevných látek, tekutin a plynů
    BranchAvailableUnavail. / In-house use onlyLoanedReservedPlace
    Lidická příruční sklad10/000



  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.