Search results

Records found: 2  
Your query: UDC+Conspectus = "^681.785.3^"
  1. Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Petr Tichopádek.    [Brno : Vysoké učení technické], c2006 . 31 s. il. ; . ISBN 80-214-3138-5 - C 322.184
    Umístění: 531/533 - Mechanika pevných látek, tekutin a plynů
    BranchAvailableUnavail. / In-house use onlyLoanedReservedPlace
    Lidická příruční sklad10/000

  2. Polarisační přístroje v analytické, tovární a vědecké laboratoři / Karel Šandera.    Praha : Vesmír, 1945 . 71 stran černobílé ilustrace

    Polarisační přístroje v analytické, tovární a vědecké laboratoři


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.