Výsledky vyhledávání

Nalezeno záznamů: 1  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^cbvk_us_auth 0132272 xkni^"
  1. Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Petr Tichopádek.    [Brno : Vysoké učení technické], c2006 . 31 s. il. ; . ISBN 80-214-3138-5 - C 322.184
    Umístění: 531/533 - Mechanika pevných látek, tekutin a plynů
    PobočkaVolnéNedostupné / PrezenčněVypůjčenéRezervaceKde najdu?
    Lidická příruční sklad10/000



  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.