Počet záznamů: 1
Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení
Tichopádek, Petr, 1974- - Autor
[Brno : Vysoké učení technické], c2006 - 31 s. : il. ; 21 cm
ISBN 80-214-3138-5
Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis,
elipsometrie elipsometry tenké vrstvy fyzikální měření
disertace tezeSignatura C 322.184 Umístění 531/533 - Mechanika pevných látek, tekutin a plynů Údaje o názvu Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev - vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus : zkrácená verze Ph.D. Thesis / Petr Tichopádek Souběž.n. Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus Záhlaví-jméno Tichopádek, Petr, 1974- (Autor) Vyd.údaje [Brno : Vysoké učení technické], c2006 Fyz.popis 31 s. : il. ; 21 cm ISBN 80-214-3138-5 Číslo nár. bibl. cnb001643216 Edice/vedl.záhl. Vysoké učení technické v Brně. Vědecké spisy. PhD Thesis ; 364 Poznámky Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2006. "Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství"-Tit. s. Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografii Jazyková pozn. Anglické resumé Dal.odpovědnost Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství (Jiná role)
Předmět.hesla elipsometrie * elipsometry * tenké vrstvy * fyzikální měření Forma, žánr disertace * teze Konspekt 53 - Fyzika MDT 531.715 , 681.785.3 , 539.216 , 53.08 , (043.3) , (048.3) Země vyd. Česko Jazyk dok. čeština Ve volném výběru 531/533 - Mechanika pevných látek, tekutin a plynů Druh dok. KNIHY Načítání…
Počet záznamů: 1